薄膜厚度自动光学量测系统 Model 7505-K007

• 适用于Roll To Roll印刷制程、Thin film等薄膜制程厚度检测
• 使用3D光学探头，进行非破坏性、快速表面厚度量测与分析
• 使用陶瓷吸附平台，可将待测物吸附于平台上使表面平整，亦不对待测物造成皱褶或破损
• 3D厚度量测范围大
• 可量测透明材质
• 高静态量测重复精度
• 高动态量测重复精度
• 具备脚本功能可进行自动量测

Chroma 7505-K007薄膜厚度自动光学检测系统主要整合3D光学探头，进行非破坏性、快速表面厚度量测与分析，适用于Roll To Roll印刷制程、Thin film等薄膜制程厚度检测。同时配备陶瓷吸附平台，可将待测物吸附于平台上使表面平整，亦不对待测物造成皱褶或破损，3D厚度量测范围大、设备静态重复精度高与设备动态重复精度高，具备Recipe功能可进行自动量测，此外系统亦提供检测数据数据的存盘功能，供后续操作人员处理分析使用。