TO-CAN 封装外观检测系统 Model 7925

• 可检测TO-CAN 封装金属外盖与透镜之刮伤、破裂、异物及胶合不良等缺陷
• 具备自动对焦功能，可克服载盘制造公差内的高度差异
• 检测完成后可依设定规格挑拣不良品
• 提供比人工目检更佳的可靠度及重复性
• 每小时最高可检测3600颗待测物
• 自动化上下料盘，减少人员上下料时间
• 提供完整的检测资料，包含检测数据及缺陷影像以供工程分析

Chroma 7925为自动化TO-CAN封装外观检测系统，可提供封装前后的透镜与金属外盖缺陷进行检测。透过高解析度之镜头以及多样的光源配置，可检出30um以上的透镜刮伤及异物。由于载盘可能存在制造公差导致待测物对焦距离均不相同，Chroma 7925配置了自动对焦系统，可自动计算待测物之对焦距离并进行补偿，以确保可以取得清楚的检测影像。

使用者可以自由设定良品与不良品之规则及缺陷编码，并依据编码进行挑拣。从上片、检测、挑拣及下片均为全自动化流程，大幅降低人员操作及制程管理发生错误的机会。检测完成后，工程师可以取得详细的缺陷量化数据，以及储存缺陷影像以利于再判读。相较于人工目检无法保留检测资料，使用Chroma 7925所取得之资料，将有助于分析制程问题，并进一步提升产品良率。

 TO-CAN Defect Items