先进SoC/模拟测试系统 Model 3680

• 24个可互换插槽，用于数字、模拟和混合信号应用
• 150 Mbps数据速率(muxed模式最高最高1Gbps)
• 最高512 sites并行测试
• 多达2048个数字通道管脚
• 256 MW向量存储深度 (512 MW可选配) (X2模式)
• 64通道高精度测量PMU
• 各数字信道均内建TMU/PPMU/频率量测单元
• 8G集成SCAN向量存储深度 (16G可选配)
• 定时精确度 (EPA) : ±150ps
• 最高可使用128 个DPS32通道
• 高通道数HDADDA2混合讯号板卡可供选用
• 高功率HCDPS模拟讯号板卡可供选用
• 高效率HDAVO混合讯号板卡可供选用
• 高通道数HDVI模拟讯号板卡可供选用*
• 高通道数HDRF无线讯号板卡可供选用*
• Direct probing系统*
• Multi-time domain功能*
• Microsoft Windows® 10操作系统
• C＃.NET和GUI程序设计界面
• CRISPro 完整软件直观操作环境
• 测试程序和测试向量兼容于其他平台
• DIB 与 探针卡 兼容于其他平台
• 支持 STDF 数据输出和自定义数据格式
• 气冷式散热设计而且占地面积小

半导体制造为一发展迅速前进的产业，必须高度集成越来越多的装置，同时又具备各种功能。半导体制造必须视为资本设备进行控管，才能使用于多个设备世代交替与应用领域，延长设备使用期限。

Chroma最新的SoC/模拟测试系统3680提供灵活的配置和广泛的覆盖范围，以高度兼容性测试不同类型的设备。3680测试系统可灵活地在24个通用插槽内部署多达2048数字通道管脚的数字信号，其数字性能高达1Gbps，最大的默认256MW向量内存，可在高速应用中提供出色的定时精准度± 150ps EPA，并提供多种测试板选择，例如HDADDA2用于转换器测试、HDVI 用于高电压和车用、混合信号HDAVO用于具有400Msps AWG和250Msps DIG的影像应用以及高精度24bit AWG和DIG的音频应用。

3680测试系统还含有AC、DC配电单元大型机柜和系统电源。提供可选购的测试头操纵器，可与自动搬运设备对接，达成测试与自动化的整合。

3680测试系统专为高产出和高并行测试能力而设计，可为无晶圆厂、IDM和测试机构提供最佳解决方案。3680具有完整的测试功能、高精度、强大的软体和出色的可靠性，是测试消费类装置、高性能微控制器、模拟设备和SoC的理想选择。

 应用领域

• 微控制器单元 (MCU)
• 数字音讯 (Digital Audio)
• 数字电视 (DTV)
• 机顶盒 (STB)
• 数字信号处理 (DSP)
• 网络处理器和现场可编程门阵列 (FPGA)