VLSI 测试系统 Model 3380D

• 50/100 MHz测试频率
• 50/100 Mbps数据速率
• 256数字信道管脚
• 并行测试可达256 sites同测数
• 32/64/128 M Pattern内存
• 多样弹性VI电源
• 弹性化硬件结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel Trim/Match功能
• 时序频率测试单位 (TFMU)
• AD/DA功能板卡 (16/24 bits) (可选配)
• SCAN向量存储深度(最高 2G bits/chain) (可选配)
• ALPG测试选配供内存IC用
• STDF工具支持
• 测试程序/pattern转换器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
• 人性化Window 7操作系统
• CRAFT C/C++ 程序语言
• 软件接口与3380P/3360P相同
• Direct mount治具可相容于3360P probe-card
• Cable mount治具可相容于3360D与3360P

为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高，且功能更强大。

3380D/3380P/3380机型为因应高同测功能(High Parallel Test)，除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外，更具备any-pins-to-any-site高同测功能(256数字信道管可并行测256个测试芯片)，以因应未来IC芯片更高的测试需求。

3380D/3380P/3380系列同时具备机框式直流电源供应的小型化、低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。

3380D VLSI测试系统非常适合应用于IoT相关的芯片测试，尤其是一些具成本压力的组件如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI测试系统3380D/3380P/3380系列开发至今，已在大中华地区被广泛的采用。

 满足各种应用范围的芯片测试

如Logic, ADDA, RF(MCU), LED, Power, ALPG, Match等